溫度的測量方法大致可分為兩種：接觸法和非接觸法。在接觸測溫法中，熱電偶和熱電阻溫度應用最為廣泛，該方法的優點是設備和操作簡單，測得的是物體的真實溫度等，其缺點是動態特性差，由于要接觸被測物體，所以對被測物體的溫度分布有影響，且不能應用于甚高溫測量。非接觸測溫法主要以輻射測溫法為主。由于光譜發射率的影響，輻射測溫法無法測量到物體的真實溫度，只是分別為亮度溫度、顏色溫度、輻射溫度等。若想知道被測目標的真實溫度，就需要對上述溫度進行發射率修正，以往所采用的方法主要有發射率修正法、逼近黑體法、輔助源法、偏振光法。

　　瞬態多光譜輻射光學測溫系統是以普朗克熱輻射理論為基礎，將待測光源的輻亮度與標準光源的輻亮度進行比較，從而測得待測光源溫度的一種光學儀器。是研究等離子體、沖擊波物理、爆轟物理和燃料燃燒過程、發動機瞬態爆燃爆震過程的重要設備。主要用于動載荷下瞬態高溫測量(1000℃～6000℃)，如燃料爆轟沖擊波溫度、燃料燃燒溫度、材料的沖擊溫度、定容彈爆燃過程、卸載溫度等的測量；也可用于其他瞬態超高溫度的測量；也可測量高壓下材料的其它參數，如測量沖擊波或稀疏波到達物質界面的時間，以確定其沖擊波速度及高壓卸載聲速；還可用于測量爆炸溫度場的溫度。

　　多光譜測溫技術是測量高溫物體的有效手段,而測溫儀器的標定的重要性如同儀器制造本身,針對高溫區的測溫儀器精度更是依賴于準確的標定.基于多光譜測溫理論的分光式測溫系統,能夠完成VNIR波段的光譜采集,以及CCD輔助對準的功能,但由于自制接收系統的波長選擇性,需要對其進行標定.通過高溫黑體爐提供標定溫度,運行測溫系統樣機以整度標定的方法取得輻射強度曲線,結合普朗克理論溫度曲線得出系統響應函數,并在解算過程中將該響應函數用于修正所測得的所有溫度點輻射曲線,擬合理論溫度曲線,使測量結果更準確.